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基礎(chǔ)信息Product information
產(chǎn)品名稱：CTM048-21靜電事件探測儀EM EYE SCS
產(chǎn)品型號：
更新時間：2025-06-11
產(chǎn)品簡介：
CTM048-21靜電事件探測儀EM EYE SCS多種功能，可以測試ESD（靜電放電）事件，EMF（電磁場），RF（射頻）信號
產(chǎn)品特性Product characteristics
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CTM048-21靜電事件探測儀EM EYE SCS
探測靜電放電次數(shù)，探測靜電放電電壓 ，可選 HBM、MM、CDM 模式
品牌：SCS（DESCO 子品牌）
注意!
不要使用任何工具裝卸傳感器模塊和天線，徒手即可，裝卸時動作輕柔
在開機(jī)狀態(tài)下不要拔插傳感器模塊和天線，也不要拔插 SD 卡
使用儀器時要小心輕放，避免跌落
天線不要觸碰到帶電體
避免硬物劃傷屏幕
初次使用時，對電池進(jìn)行 2 次全充-放電循環(huán)，以延長電池壽命
電池充滿時間為 2 小時左右
不要使用第三方電源適配器，有可能造成儀器損壞
如果儀器死機(jī)，可用回形針頂一下儀器底部的重置鍵
1. 產(chǎn)品描述
CTM048-21靜電事件探測儀EM EYE SCS是一款靜電事件探測儀，可以測試靜電放電的次數(shù)和放電電壓。儀器具有分辨信號的能力，區(qū)分 EMI 和 ESD 信號，剔除非 ESD 相關(guān)事件。用戶可以選擇測試 CDM、HBM、MM 放電模型，儀器根據(jù)放電模型、探測距離和信號強(qiáng)度計算出大致的放電電壓。
1 主機(jī)身
2 SD 內(nèi)存卡（已插入主機(jī)身）
3 CTC021 探測模塊（含 CTS001 天線）
4 CTC113-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，1.8 米長纜線
5 電源適配器
6 CTC115-6FT 遠(yuǎn)端全向天線，抗高溫，1.8 米長纜線
標(biāo)配：○1 +○2 +○3 +○4 +○5
選配：○6
2. 部件功能及安裝
備注：
CTS001 為定向天線，只可以探測到正前方的信號
CTC113 為全向天線，可以探測到 360 度任何方向的信號
如果需要探測高溫區(qū)域的靜電放電事件，選購 CTC115 高溫天線
如果新機(jī)沖不了電，把電源適配器插上，然后頂 1 下重置鍵激活電池
CTC113 遠(yuǎn)端天線（全向天線），如果需要探測狹窄空間，可采用該天線
3. 觸控屏操作
開機(jī)：手指按住顯示屏任意位置 3 秒
關(guān)機(jī)：手指按住 Power/C 鍵 4 秒
1 弧形圓點，示意 10 個級別的放電強(qiáng)度，點擊可設(shè)置報警閾值
2 閃電/三角符號：點擊可切換符號
閃電符號，只顯示靜電相關(guān)放電事件（ESD）
三角符號，顯示所有放電事件（包含 ESD 和 EMI）
3 探測距離：天線到被測試物/測試點的距離，點擊可設(shè)置距離
4 聲音符號：點擊該符號可選擇報警聲類型及音量。鈴鐺符號為“叮鈴"聲，只有一個音量，不能調(diào)節(jié)。
點擊切換成喇叭符號，這時的儀器發(fā)出類似收音機(jī)調(diào)頻聲，聲音根據(jù)信號強(qiáng)度的大小變化。繼續(xù)點擊可以調(diào)節(jié)音量大小，在喇叭上出現(xiàn)叉，表示靜音。
5 Power/C 按鍵：單擊該鍵屏幕清零；按住該鍵 4 秒關(guān)機(jī)
6 Menu/F 按鍵：點擊進(jìn)入儀器基本設(shè)置界面
7 Hold 按鍵：點擊 1 次鎖定當(dāng)前值；再點擊 1 次標(biāo)識該值為最大值；再點擊 1 次取消鎖定
8 時間：顯示當(dāng)前時間
9 電量符號：示意剩余電量；點擊該符號設(shè)置日期和時間
10 內(nèi)存卡符號：點擊該符號，進(jìn)入查看界面，可以查看測試記錄
11 放電模型：點擊進(jìn)入設(shè)置界面，可以選擇 CDM、MM、HBM 放電模型或 Raw Input（信號電平）
12 靜電放電電壓值
3.1. 開機(jī)界面
按住屏幕任意位置大概 3 秒后儀器開機(jī)。開機(jī)后先顯示儀器固件號，如下所示：
稍后，進(jìn)入待機(jī)界面。如果未插入 SD 卡或不能識別 SD 卡，出現(xiàn)以下提示：
無 SD 卡也可以正常使用該儀器，但測試數(shù)據(jù)不會被保存。點擊黃色區(qū)域關(guān)閉提示窗口并進(jìn)入待機(jī)界面。
注意！拔插 SD 卡時，儀器處于關(guān)機(jī)狀態(tài)。
3.2. 儀器基本設(shè)置
點擊 Menu/F 鍵進(jìn)入基本設(shè)置界面，顯示如下：
第一行顯示儀器主板編號
第二行為屏幕亮度，點擊圓盤的?/?增加或降低亮度，默認(rèn) 50%
點擊▲/▼滾動到第三行“Off time"項，設(shè)置自動關(guān)機(jī)時間（默認(rèn) 5 分鐘），點擊?/?改變時間，一直點擊?到 0，表示不啟用自動關(guān)機(jī)功能
點擊▲/▼滾動到第四行“Local antenna"項，點擊?/?切換 Local antenna/Remote antenna
Local antenna：采用 CTS001 定向天線時選擇該項
Remote antenna：采用 CTC113 或 CTC115 遠(yuǎn)端全向天線時選擇該項
設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
Display Module
KW H028 Q27-F02
Firmware Rev. 2.06
Desco Industries
2015
WARNING:
No memory card.
You can add it any time.
Click here to close the
Window.
Hardware Setup
Power
C 08:30
S/N 16065 CRC=00A7A9C9
Brightness: 50%
Off time: 5 min
Local antenna
儀器基本設(shè)置界面
3.3. 設(shè)置日期和時間
點擊電池符號進(jìn)入日期和時間設(shè)置界面，顯示如下：
第一行設(shè)置時間，點擊圓盤▲/▼改變數(shù)值，點擊?/?移動光標(biāo)向前或向后
第二行設(shè)置日期，格式為：月/日/年（08/15/16 表示 2016 年 8 月 15 日）
第三行選擇 12/24 小時制，點擊▲/▼選擇 12H 或 24H
設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
4. 測試靜電放電（ESD）事件
4.1. 設(shè)置探測距離和放電模型
儀器采用專LI的算法，根據(jù)探測距離、獲得信號強(qiáng)度和放電模型計算出大致的放電電壓。用戶需要設(shè)置探測距離和放電模型。
探測距離：
天線距離被測試物/測試點的距離，設(shè)置范圍 0.5~15.0 英寸（1.3~38.1cm）
注意：實際測試時，天線距離被測試物/測試點應(yīng)該為所設(shè)置的距離。
放電模型：
2 CDM：器件本身帶有靜電，當(dāng)接觸到接地導(dǎo)體或其他電位導(dǎo)體時發(fā)生靜電放電
2 MM：帶靜電的設(shè)備或工具接觸到接地的器件，發(fā)生靜電放電
2 HBM：帶靜電的人體接觸到接地的器件，發(fā)生靜電放電
2 Raw Input：天線所獲得的實際信號強(qiáng)度（電平信號），該讀數(shù)用于儀器校準(zhǔn)
Time-Date Setup
Power
C 08:30
Time: 14:06
Date: 08/15/16
Mode: 24 H
設(shè)置日期和時間
點擊屏幕的距離或放電模型方框，進(jìn)入設(shè)置界面，屏幕顯示如下：
2 點擊圓盤▲/▼設(shè)置探測距離，選擇范圍 0.5~15.0 英寸（1.3cm~38.1cm），0.5 英寸以下，每點擊 1 次
遞增 0.5 英寸；10 英寸以上，每點擊 1 次遞增 1 英寸。
2 點擊圓盤?/?設(shè)置放電模型，可以選擇 CDM、MM、HBM、Raw Input
2 設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
4.2. 報警閾值設(shè)置
點擊弧形圓點，進(jìn)入設(shè)置界面。（備注：儀器內(nèi)存只記錄超過閾值的靜電放電事件）
2 點擊圓盤?/?設(shè)置報警閾值，范圍 000~990V：
l 0~10V 按 1V 增幅設(shè)置
l 10~990V 按 10V 增幅設(shè)置
2 如果選擇了“Raw Input"測試模式，可以選擇 1~1500mV
2 設(shè)置完成后，點擊圓盤中間的8 返回待機(jī)界面
ESD Events
Power
C 08:30
Distance: 4.0"10.2cm
Model: CDM
ESD Events
Power
C 08:30
000 V
設(shè)置距離和模式
設(shè)置報警閾值
按以上設(shè)置完成后，即可開始測試。測試時屏幕出現(xiàn)閃電符號，表示開啟了信號屏蔽功能，儀器剔除了非ESD 放電信號，只顯示靜電放電事件。點擊該符號切換到全信號模式，這時出現(xiàn)三角形符號，表示儀器顯示所有探測到的信號，包括 EMI 背景噪音和 ESD 放電信號。
測試時，屏幕顯示的電壓值為估算的放電電壓，數(shù)字為超過閾值的放電次數(shù)。最高可以記錄 32767 次放電次數(shù)。點擊 Power/C 鍵可以清零放電次數(shù)，重新累計。
4.3. 按照 ANSI/ESD SP17.1 規(guī)范進(jìn)行靜電放電事件風(fēng)險評估流程
備注：
2 首先確定靜電敏感器件是否有導(dǎo)體部位接觸或非常接近導(dǎo)電的物體，例如金屬-金屬接觸，如果沒有，通常不會有靜電放電風(fēng)險，無需進(jìn)一步進(jìn)行風(fēng)險評估。
2 空載測試：在制程中不要放入靜電敏感器件，記錄下測到的靜電放電現(xiàn)象
2 放入靜電敏感器件后，如果沒有探測到更多的放電現(xiàn)象，表示探測到的是干擾信號/背景噪音，而非放入靜電敏感器件后造成的靜電放電，評估結(jié)束-低風(fēng)險
2 如果探測到更多的放電現(xiàn)象，根據(jù)測到的放電電壓值和器件的靜電敏感閥值來評估風(fēng)險，如果放電電壓值超過器件所列明的閥值，采取措施消除危險，例如采取接地、離子中和等方式
2 采取消除風(fēng)險的措施后，再次進(jìn)行評估
○1 是否和靜電敏感器件直接
接觸或距離非常近
評估結(jié)束-低風(fēng)險
○2 進(jìn)行空載測試
○3 把靜電敏感器件放入后測
試，對比測試結(jié)果
○4 是否測到更多的
靜電放電事件？
○5 評估結(jié)束-低風(fēng)險
否
否
○6 評估風(fēng)險程度
消除風(fēng)險
按 2~5 步驟再次評估
5. 數(shù)據(jù)查看和處理
5.1. 安裝 SD 卡
1）把 SD 卡插入儀器，注意方向，有字的面朝上，有金屬觸腳的在里面。注意！一定要在儀器關(guān)機(jī)的情況下拔插 SD 卡。
2）插好卡后，儀器開機(jī)，儀器會對新卡或空卡進(jìn)行初始化。然后進(jìn)入待機(jī)界面，在屏幕右中可以看見 SD卡圖標(biāo)，表示成功。如果不顯示 SD 卡圖標(biāo)或有紅叉，表示該卡不兼容。
3）所有測試記錄會保存在 SD 卡上。注：只有超過報警閾值的值才會被記錄下來。
在待機(jī)界面，點擊 SD 卡符號，進(jìn)入查看界面。點擊圓盤的▲/▼和?/?可以上/下和左/右滾動查看。
5.2. 數(shù)據(jù)處理
向供應(yīng)商獲取 EMEYE_Converter.zip 軟件，解壓后雙擊 setup.exe 安裝，按指示進(jìn)行安裝，最后點擊 Close完成。EM EYE 操作手冊/APS-21 9
把 SD 卡從儀器中取出，放入配套的卡托，插到電腦的卡槽上
1) 打開安裝的 Em Eye File Converter Rev.5 軟件（在桌面有快捷圖標(biāo)）
2) 點擊 File > Open Ctrl+O，選擇 SD 卡上的 ESD3M0003.esd 文件
3) 打開后可以看見所有的測試記錄，每條表示一個時間點的測試記錄。例如下圖第一行，表示 2016 年 8月 29 日 22 點 39 分 17 秒的測試記錄，共有 7 個 ESD 事件發(fā)生（報警閾值為 370V）
4) 點擊任一條測試記錄，然后點擊 File > Save 保存。例如下圖，保存在 C 盤下的“ESD 測試"文件夾
5) 用 EXCEL 打開該所保存的文件可以顯示詳細(xì)的測試數(shù)據(jù)
例如上圖，打開所保存的 2016 年 8 月 29 日 22 點 39 分 17 秒的測試記錄，可以看見詳細(xì)的 7 個 ESD 事件。
備注：當(dāng) SD 卡滿后，把 SD 卡插入電腦，然后清空該卡即可。
重新把空卡插入儀器后，儀器會自動初始化。
6. 故障信息
屏幕提示 解決方法
ERROR: Sensor is disconnected. Click here to turn device off.
未裝上探測模塊就開機(jī)。先關(guān)機(jī)，裝上探測模塊后再開機(jī)使用。
ERROR:Card was removed. Data may be
lost and card could be damaged.
Click here to close the window.
在開機(jī)狀態(tài)下，拔出了 SD 卡，可能會導(dǎo)致數(shù)據(jù)丟失和SD 卡損壞。點擊關(guān)閉該提示，關(guān)機(jī)后插回 SD 卡。
WARNING:No memory card. You can add it at any time.
Click here to close the window.
儀器未插入 SD 卡，可以在任何時候插入 SD 卡。點擊關(guān)閉該提示。
PREPARING CARD FOR RECORDING!!!
DO NOT REMOVE!!! PLEASE WAIT. 正在初始化 SD 卡，不要拔出 SD 卡。
ERROR: Invalid memory card. Format or replace it.
Click here to close the window.
SD 卡格式不兼容，先在電腦上格式化成 FAT32 格式再使用。
ERROR!!! STACK OVERFLOWED.
Click here to turn device off.
出現(xiàn)嚴(yán)重故障。需要重置儀器，如果問題未解決，必需返回原廠維修。
備注：當(dāng)儀器出現(xiàn)死屏或嚴(yán)重故障時，用回形針頂一下儀器底部的重置孔，儀器恢復(fù)到出廠狀態(tài)，通常能解決故障。
備注：儀器長期閑置，電池可能耗盡電量。這時插上電源適配器，用回形針頂一下儀器底部的重置孔，電池重新被激活，儀器開始充電。
7. 儀器校準(zhǔn)
測試靜電放電電壓，測試方法是獲取放電信號的強(qiáng)度然后采用專有算法計算出放電電壓值。
原廠校準(zhǔn)書僅顯示儀器能否正確接收到放電信號，校準(zhǔn)方法是采用脈沖電源輸出 100mV、150mV、1.0V、1.5V 信號，然后驗證儀器接收到的信號強(qiáng)度（dBμV）是否準(zhǔn)確。
疑問一：如何在第三方進(jìn)行校準(zhǔn)？
答：不能在第三方機(jī)構(gòu)進(jìn)行校準(zhǔn)，因為原廠對儀器的天線數(shù)據(jù)（電容、阻抗）等均BU公開。第三方無法對儀器能否接收正確放電信號進(jìn)行驗證。即使第三方可以驗證儀器是否準(zhǔn)確獲取放電信號，后續(xù)也無法根據(jù)信號強(qiáng)度計算出放電電壓值，該算法為原廠專有算法，BU公開。
所以儀器必需返回原廠進(jìn)行校準(zhǔn)，亞洲用戶可以返回 DESCO 日本公司進(jìn)行校準(zhǔn)。
疑問二：該儀器測試放電電壓，但為什么沒有測試精度參數(shù)？
答：靜電放電電壓和實際物體的電容有關(guān)，儀器無法事先知道被測物體的電容，只能采取一個經(jīng)驗值（根據(jù)實驗取一個能兼顧大多數(shù)器件的經(jīng)驗值）來計算放電電壓。所以儀器的讀數(shù)是接近實際放電電壓值，而沒有一個定量的測試精度。
疑問三：如何直觀地驗證儀器的測試準(zhǔn)確度？
答：下圖顯示了靜電模擬器的放電過程，儀器實測讀數(shù)接近放電電壓。用戶可以用靜電放電槍做這類驗證。
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